即時景深擴展(EFI)
層厚度測量
研究型連續(xù)變倍SZX系列
截點法晶粒度
自動聚焦裝置
圖譜對照
清潔度分析系統CIX100
OLS5100激光共焦顯微鏡
偏光顯微鏡BX53P
Presi制樣設備
焊接
夾雜物最惡劣視場法
DP22
普及型連續(xù)變倍SZ系列
孔隙率
正立式BX53M奧林巴斯金相顯微鏡
奧林巴斯清潔度分析系統
DP27
DSX1000數碼顯微鏡
簡易型BXFM
普及型GX53奧林巴斯倒置顯微鏡
STREAM軟件特點
光源以及配件
奧林巴斯測量顯微鏡
Linkam顯微鏡熱臺
鑄鐵
DP74
輔助聚焦裝置
Prior程序控制電動載物臺
顆粒分析
PCB電鍍分布能力
汽車行業(yè)質量控制
面積法晶粒度
奧林巴斯測量顯微鏡STM7
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